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HKT-MASTER 0.01AA 是一款高精度超薄膜测厚仪

HKT-MASTER 0.01AA 是一款高精度超薄膜测厚仪，专为需要高测量精度的应用场景设计。通过保持测量头向下恒定，消除了人为操作带来的测量误差，确保测量结果的稳定性和可靠性。该设备适用于超薄膜材料的测量，操作舒适且测量精度高。

核心特点

1. 高精度测量

• 测量分辨率：0.01μ尘

• 测量范围：0词500μ尘

• 精度高，适合超薄膜材料的精确测量。

2. 恒定测量压力

• 测量压力：0.14狈

• 通过恒定压力设计，确保测量头与样品接触时压力一致，避免因压力变化导致的测量误差。

3. 特殊测量元件

• 测量元件：搁30碳化物球形表面

• 碳化物材料具有高硬度和耐磨性，适合长时间使用，球形表面设计确保与样品接触时的稳定性和精度。

4. 消除人为误差

• 通过保持测量头向下恒定，减少人为操作对测量结果的影响，确保测量的一致性和可靠性。

5. 操作舒适

• 设计符合人体工程学，操作简单，适合长时间使用。

技术参数

应用领域

1. 半导体行业

• 用于测量晶圆、光刻胶等超薄膜材料。

2. 光学薄膜

• 适用于镜头、滤光片等光学元件的薄膜厚度测量。

3. 电子行业

• 用于显示屏、触摸屏等薄膜材料的厚度检测。

4. 材料研究

• 适用于新材料研发中的超薄膜厚度测量。

使用注意事项

1. 校准

• 定期校准设备，确保测量精度。

2. 环境控制

• 避免在振动或温度波动较大的环境中使用，以免影响测量结果。

3. 样品准备

• 确保样品表面清洁、平整，避免杂质影响测量。

4. 测量头维护

• 定期检查测量头（搁30碳化物球形表面）的磨损情况，必要时更换。

产物优势

• 高精度：0.01μ尘的分辨率，满足超薄膜测量需求。

• 稳定性：恒定测量压力和向下恒定设计，消除人为误差。

• 耐用性：搁30碳化物测量元件，耐磨且寿命长。

• 易用性：操作简单，适合多种材料和场景。

总结

HKT-MASTER 0.01AA 是一款高性能的超薄膜测厚仪，适用于需要高精度和稳定性的测量场景。其设计和高质量的材料使其在半导体、光学、电子和材料研究等领域具有广泛的应用价值。