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可同时检测反射率和透射率的薄膜测厚技术

发布时间:2022-04-26 点击量:918

可同时检测反射率和透射率的薄膜测厚技术

F10-RT 是一款紧凑型桌面测量系统,集成了测量单元和测量台。可同时测量反射率和透射率,轻松分析膜厚、折射率和消光系数。

只需一根 USB 线和电源线即可轻松连接,无需调整光学系统即可进行复杂设置,而且设置非常简单。

要特点

  • 紧凑型桌面测量系统,集成测量单元和测量台
    光谱范围广,可选择多种光源

  • 可同时测量反射率和透射率,并具有膜厚、折射率和消光系数分析功能,
    同时用标准维护相机记录测量位置。

  • 放个样品就好了。无需调整光学系统,设置非常简单

主要用途

平板聚酰亚胺、滨罢翱、抗蚀剂、氧化膜、增透膜、笔贰罢、玻璃基板上的各种光学薄膜
光学镀膜玻璃、眼镜、镜片等的硬涂层。
薄膜太阳能电池颁诲罢别、颁滨骋厂、非晶硅等

测量示例

用于平板的透明电极滨罢翱的膜厚和折射率的测量实例
同时测量反射率和透射率。薄膜厚度分析 FIL Measure 软件即时分析薄膜厚度、折射率等。